表面・界面分析技術はめざましく進歩し、学術的研究はもとより、産業界における研究開発や品質評価などに盛んに利用されています。本セミナーは、分析機器メーカーと分析会社の協力により、口頭発表とポスター展示を併設して、表面分析の応用面における情報交換の場を提供し、表面分析の解析技術の向上に役立つ最新の分析技術の紹介や、各種材料を分析する場合に特有のノウハウ・ヒントになる内容をたくさん盛り込んでおります。

企業展示だけの参加も歓迎します。多数の皆様のご参加をお待ちしております。

開催概要

日時

2013年11月22日(金) 10:30～17:30

場所

神戸大学 百年記念館 (神大会館) 六甲ホール [六甲台第2キャンパス]

参加費

無料

定員

200人

お申し込み方法

オンライン申し込み 推奨

主催

(公社)日本表面科学会関西支部、神戸大学研究基盤センター

お問い合わせ先

神戸大学研究基盤センター 機器分析部門 藤居
Tel: 078-803-6116
E-mail: fujiiyos@kobe-u. ac.jp

※メールアドレスの一部 (ac.jp の前など) には、アドレス収集ロボット対策として半角スペースが挿入されております。メールアドレスご使用の際には、適宜修正願います。

講演プログラム

時間	タイトル	講演者
10:30	デバイス異常箇所の特定及びその解析評価	財団法人材料科学技術振興財団 若槻 昇
10:45	リチウムイオン電池材料の表面・構造解析技術事例	住化分析センター 高橋 照央
11:00	量子ビームを用いた電池材料の評価	コベルコ科研 若林 琢己
11:15	最新のXPSを用いた表面分析技術	アルバック・ファイ 井上 りさよ
11:30	最新ラマンイメージング装置紹介と応用分析例	ナノフォトン 久保田 直義
11:45	(昼食) ポスターセッション・展示
13:15	RF-GD-OESを用いた最新の表面分析技術	リガク 古城 篤志
13:30	GD-OESの基礎と新展開	堀場製作所 藤本 明良
13:45	最新rf-GD-OESによる極薄膜の評価	東芝ナノアナリシス 佐藤 暢高
14:00	GD-OESを用いた最新分析事例	東レリサーチセンター 沼尾 茂悟
14:15	TOF-SIMSを用いたマルチスケール深さ方向分析	日東分析センター 武内 崇夫
14:30	(休憩) ポスターセッション・展示
14:45	3次元アトムプローブによる最新技術と応用分析例	アメテック 石川 真紀志
15:00	Wedge法による試料作製とTEMによる評価	カネカテクノリサーチ 丸山 秀夫
15:15	FIB-TOF-SIMSを用いた最新分析技術	トヤマ 柏木 隆宏
15:30	走査型プローブ顕微鏡 (SPM) による最新の材料評価技術	島津製作所 大田 昌弘
15:45	JXA-8230/8530Fの紹介と最新EPMA分析手法	日本電子 神山 亮太
16:00～17:30	★ポスターセッション・企業展示★ (上記企業、日立ハイテクソリューションズ、神戸大学研究基盤センター)